玻璃鍍膜表面電阻測試儀體積電阻率能被用作選擇特定用途絕緣材料的一個參數(shù)。電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化,因此在為一些運(yùn)行條件而設(shè)計(jì)時(shí)必須對其了解。體積電阻率的測量常被用于檢查絕緣材料生產(chǎn)是否始終如一,或檢測能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導(dǎo)電雜質(zhì)。 

玻璃鍍膜表面電阻測試儀技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測量范圍: 1×104Ω ～1×1018Ω。

2、電流測量范圍為: 2×10-4A～1×10-16A

3、顯 示 方 式:數(shù)字彩屏觸摸顯示 

4、內(nèi)置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準(zhǔn)確度:1%  

6、使用環(huán)境: 溫度:0℃～40℃,相對濕度<80%

7、機(jī)內(nèi)測試電壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式: AC 220V,50HZ,功耗約5W

9、顯示類別:電阻、電阻率、電流。

10、輸入方式:真彩64位手寫觸摸。

11、顯示結(jié)果:電阻、電阻率、電流。

12、儀器特點(diǎn):所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時(shí)電阻與電阻率結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩。既能測超高電阻又能測微電流還可以直接測得電阻率。

體積電阻率測定儀測量技術(shù) 

a.通常,絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對地絕緣,固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻,并具有合適的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。

b.絕緣材料的電阻率一般都很高,也就是傳導(dǎo)電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響,測量結(jié)果就會發(fā)生很大的誤差。同時(shí)絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對測量結(jié)果也有很大影響。

c.影響體積電阻率和表面電阻率測試的主要因素是溫度和濕度、電場強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個參數(shù),電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻,或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導(dǎo)電雜質(zhì)。

d.由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測試中去,因此只能近似地測量表面電阻,測得的表面電阻值主要反映被測試樣表面污染的程度。所以,表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù),而是一個有關(guān)材料表面污染特性的參數(shù)。當(dāng)表面電阻較高時(shí),它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時(shí)間。 

(1)溫度和濕度:固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低,特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此,電瓷材料不但要測定常溫下的體積電阻率,而且還要測定高溫下的體積電阻率,以評定其絕緣性能的好壞。由于水的電導(dǎo)大,隨著濕度增大,表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此,測定時(shí)應(yīng)嚴(yán)格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測試的環(huán)境條件下進(jìn)行。

(2)電場強(qiáng)度:當(dāng)電場強(qiáng)度比較高時(shí),離子的遷移率隨電場強(qiáng)度增高而增大,而且在接近擊穿時(shí)還會出現(xiàn)大量的電子遷移,這時(shí)體積電阻率大大地降低。因此在測定時(shí),施加的電壓應(yīng)不超過規(guī)定的值。

(3)殘余電荷:試樣在加工和測試等過程中,可能產(chǎn)生靜電,電阻越高越容易產(chǎn)生靜電,影響測量的準(zhǔn)確性。因此,在測量時(shí),試樣要*放電,即可將幾個電極連在一起進(jìn)行短路。

(4)雜散電勢的消除:在絕緣電阻測量電路中,可能存在某些雜散電勢,如熱電勢、電解電勢、接觸電勢等,其中影響最大的為電解電勢。用高阻計(jì)測量表面潮濕的試樣的體積電阻時(shí),測量極與保護(hù)極間可產(chǎn)生20mv的電勢。試驗(yàn)前應(yīng)檢查有無雜散電勢?？筛鶕?jù)試樣加壓前后高阻計(jì)的二次指示是否相同來判斷有無雜散電勢。如相同,證明無雜散電勢;否則應(yīng)當(dāng)尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢的根源,才能進(jìn)行測量。

(5)防止漏電流的影響:對于高電阻材料,只有采取保護(hù)技術(shù)才能去除漏電流對測量的影響。保護(hù)技術(shù)就是在引起測量誤差的漏電路徑上安置保護(hù)導(dǎo)體,截住可能引起測量誤差的雜散電流,使之不流經(jīng)測量回路或儀表。保護(hù)導(dǎo)體連接在一起構(gòu)成保護(hù)端,通常保護(hù)端接地。測量體積電阻時(shí),三電極系統(tǒng)的保護(hù)極就是保護(hù)導(dǎo)體。此時(shí)要求保護(hù)電極和測量電極間的試樣表面電阻高于與它并聯(lián)元件的電阻10～100倍。線路接好后,應(yīng)首先檢查是否存在漏電。此時(shí)斷開與試樣連接的高壓線,加上電壓。如在測量靈敏度范圍內(nèi),測量儀器指示的電阻值為無限大,則線路無漏電,可進(jìn)行測量。

(6)條件處理和測試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預(yù)處理?xiàng)l件取決于被測材料,這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件》中規(guī)定的預(yù)處理方法?？墒褂酶视汀芤撼睗裣溥M(jìn)行濕度預(yù)處理。測試條件應(yīng)與預(yù)處理?xiàng)l件盡可能地一致,有些時(shí)候(如浸水處理)不能保持預(yù)處理?xiàng)l件和測試條件一致時(shí),則應(yīng)在從預(yù)處理環(huán)境中取出后在盡可能短時(shí)間內(nèi)完成測試,一般不超過5分鐘。

(7)電化時(shí)間的規(guī)定:當(dāng)直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時(shí),通過試樣的電流會指數(shù)式地衰減到一個穩(wěn)定值。電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動離子位移到電極所致。對于體積電阻率小于1010Ω·m的材料,其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1分鐘內(nèi)達(dá)到。因此,要經(jīng)過這個電化時(shí)間后測定電阻。對于電阻率較高的材料,電流減小的過程可能會持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天,因此需要用較長的電化時(shí)間。如果需要的話,可用體積電阻率與時(shí)間的關(guān)系來描述材料的特性。當(dāng)表面電阻較高時(shí),它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1分鐘的電化時(shí)間。

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